Digital Interactive Microscopy Systems yhdistää korkearesoluutioiset optiset polut sulautettuihin digitaalisiin prosessoreihin ja kosketus{1}}interaktiivisiin liitäntöihin. Teollisiin tarkastuksiin, materiaalianalyyseihin ja biotieteiden laboratorioihin suunnitellut järjestelmät poistavat perinteisen okulaarien väsymisen suoratoistamalla ultra-HD-reaaliaikaista-kuvaa suoraan integroituihin näytöihin tai ulkoisiin monitoreihin. Alumiiniseosrungolla ja modulaarisilla optisilla komponenteilla rakennettu järjestelmä tukee tarkkaa -näytöllä tapahtuvaa mittausta, yhteiskatselua ja saumatonta tiedonsiirtoa USB 3.0:n ja Gigabit Ethernetin kautta sekä suoraa vientiä LIMS-yhteensopiviin muotoihin (CSV, Excel, PDF).
Tekniset tiedot
|
Parametri |
Erittely |
|
Optinen suurennus |
20x – 500x (konfiguroitavissa objektiivilinssien avulla) |
|
Digitaalinen anturi |
1/1,8" Sony CMOS -kenno, 4K UHD (3840 x 2160) |
|
Kuvataajuus |
60 fps 4K-resoluutiolla (nolla latenssia) |
|
Työetäisyys |
35-120 mm |
|
Valaistus |
Quadrant{0}}ohjattu rengas-LED kirkkauden/kulman säädöllä |
|
Mittaustyökalut |
Piste{0}}pisteeseen-piste, kulma, säde, alue, samankeskiset ympyrät, automaattinen-reunan tunnistus |
|
Ohjelmistojen ja käyttöjärjestelmien yhteensopivuus |
Sulautettu Linux; Windows 10/11:n ja macOS:n kanssa yhteensopiva PC-ohjelmisto |
|
Data- ja vientiportit |
HDMI, USB 3.0, RJ45 Gigabit Ethernet, MicroSD (jopa 256 Gt); mittausraporttien suora vienti (PDF/Excel) |
|
Virtalähde |
DC 12V / 3A tulo |
Tärkeimmät ominaisuudet
Nolla-viive 4K-näyttö:Suora HDMI-lähtö 60 fps:llä tarjoaa reaaliaikaisen liikkeen seurannan ilman liikkeen epäterävyyttä tai viivettä.
Sulautettu mittausohjelmisto:Sisäiset kalibrointi- ja mittaustyökalut toimivat itsenäisesti ilman ulkoista PC-liitäntää.
Modulaarinen tavoitesuunnittelu:Bajonetti{0}}asennusoptiikka mahdollistaa nopean vaihdon metallurgisten, biologisten ja polarisoivien objektiivien välillä.
Usean{0}}käyttäjän yhteistyö:Samanaikainen tulostus kosketusnäytöille, näytöille ja verkkopäätteille tiimin tarkastelua ja tarkastusta varten-pois.
Jäljitettävä kalibrointi:Tehdas{0}}kalibroidut vaihemikrometrit mukana jäljitettävien NIST-kalibrointitodistusten mukana.
Sovellukset
Elektroniikka ja piirilevyjen valmistus
Juotosliitoksen tarkastus, BGA-kohdistustarkastus ja mikro-halkeamien havaitseminen painetuissa piirilevyissä.
Metallurginen analyysi
Raekoon arviointi, faasianalyysi ja hitsin tunkeutumissyvyyden mittaus metallin valmistuksessa.
Life Science & Education
Patologian diakatsaus, kudosnäytteiden tarkkailu ja digitaaliset luokkahuoneesittelyt.
Tarkkuuskonetekniikka
Pinnan viimeistelyn tarkastus, kierteen nousun tarkistus ja mikrokomponenttien mitoitus.
Kokoonpanoasetukset
Jalustan kokoonpanot:Raskaat{0}}puomitelineet suurille näytteille, nivelletyille käsivarreille tai tavallisille hieno-tarkennuspylväille.
Valaistusmoduulit:Kirkaskenttä, pimeäkenttä, koaksiaalinen polarisoitu valo ja UV-fluoresoivat moduulit.
Kameran moduulit:Vaihdettavat anturipäät vaihtelevat tavallisesta 1080p{1}}nopeasta 12 megapikselin korkean-dynaamisen-alueen (HDR) muunnelmiin.
OEM/ODM ja räätälöinti
Laiteohjelmisto- ja käyttöliittymäbrändäys:Mukautetut käynnistysnäytöt, lokalisoidut ohjelmistoliitännät ja omat mittaustyökalut.
Optiset sovitukset:Räätälöidyt työskentelyetäisyydet, erikoissuodatinintegraatio (kaistanpäästö/polarisointi) ja mittatilaustyönä valmistetut asennuskannattimet automatisoituja tuotantolinjoja varten.
Valmistuskapasiteetti:Omat-CNC-työstökeskukset ja puhdastilojen optiset kokoonpanolinjat tukevat erätilauksia vakailla toimitusajoilla.
Laadunvalvonta
Optiikan tarkastus:Interferometritestaus varmistaa linssin aaltorintavirheen ja pinnoitteen tasaisuuden ennen kokoamista.
Anturin kalibrointi:Jokainen CMOS-anturi käy läpi pikselivirhekartoituksen ja värilämpötilan kalibroinnin.
Ympäristötestaus:Valmiille yksiköille suoritetaan 48{1}}tunnin palamistestaus ja tärinätarkistukset, jotta varmistetaan lämpöstabiilisuus ja mekaaninen kestävyys teollisuusympäristöissä.
Standardien noudattaminen:ISO 9001 -sertifioitu valmistus, CE-, FCC- ja RoHS-yhteensopiva.
Pakkaus ja toimitus
Pakkaus:Tarkkuusvaletut-antistaattiset EPS/EPE-vaahtomuoviosat, jotka on sijoitettu raskaisiin-kaksoisseinämäisiin-aallotuspahvipakkauksiin. Valinnaiset kestävät lentolaukut herkälle kansainväliselle kuljetukselle.
Pudotus- ja iskusuojaus:Pakkaukset on testattu tiukasti ISTA-pudotusstandardien mukaisesti, jotta ne suojaavat herkkiä optisia kohdistuksia pitkän matkan -globaalin rahdin aikana.
Laatikon tuotteet:-Päämikroskooppiyksikkö, virtalähde, kalibrointilasi, USB-hiiri, HDMI-kaapeli ja kalibrointitodistus.
Toimitus:Normaali lento- ja merirahtilogistiikka iskun{0}}ja-kallistuksen osoittimilla, jotka on kiinnitetty päälaatikoihin.
Usein kysytyt kysymykset
K: Tarvitseeko järjestelmä PC:n mittausten suorittamiseen?
V: Ei. Järjestelmä käyttää sulautettua mittausohjelmistoa suoraan liitetyn hiiren tai kosketusnäytön kautta HDMI-lähdön kautta. PC on valinnainen edistykselliseen tiedon raportointiin ja tietokantojen integrointiin USB 3.0:n kautta.
K: Mikä on suurin kuvanopeus 4K-resoluutiolla?
V: Järjestelmä tuottaa 60 kuvaa sekunnissa täydellä 4K (3840 x 2160) resoluutiolla, mikä eliminoi liikeviiveen live-tarkastuksen aikana.
K: Mitä ohjelmistomuotoja tuetaan tietojen vientiin?
V: Mittaustiedot, kuvat ja tarkastuslokit voidaan viedä suoraan CSV-, Excel- ja strukturoituihin PDF-raporttimuotoihin, mikä helpottaa integrointia laboratoriotietojen hallintajärjestelmiin (LIMS).
K: Voidaanko optista suurennusta päivittää oston jälkeen?
V: Kyllä. Modulaarisen bajonettikiinnikkeen avulla käyttäjät voivat vaihtaa objektiivilinssejä ja lisätä Barlow-lisälinssejä suurennusalueen säätämiseksi.
K: Miten järjestelmän kalibrointia ylläpidetään ISO{0}}yhteensopivia tarkastuksia varten?
V: Jokaisen yksikön mukana toimitetaan sertifioitu mikrometri. Käyttäjät käyttävät näytön ohjattua-kalibrointitoimintoa NIST-jäljitettävien kalibrointitietojen luomiseen, jotka tallennetaan suoraan laitteeseen.
K: Mitkä ovat merkkiohjelmiston OEM-räätälöinnin läpimenoajat?
V: Ohjelmiston alustava räätälöinti ja näytetestaus vaativat tyypillisesti 3–4 viikkoa, ja tuotantomäärät vastaavat vakiovalmistusaikatauluja.
Pyydä tarjous
Täytä alla olevat kyselyparametrit saadaksesi{0}}suoran tehdashinnan, tekniset piirustukset tai määrittää mukautetut OEM-vaatimukset. Suunnittelusovellustiimimme vastaa 24 tunnin sisällä virallisella tarjouksella ja konfiguroinnin toteutettavuusraportilla.
[Pyydä tehdastarjous ja tekninen tietolomake]
[Kysy OEM/ODM-räätälöinnista]
Suositut Tagit: verkotettu mikroskoopin opetusjärjestelmä, Kiina verkottuneen mikroskoopin opetusjärjestelmän valmistajat, toimittajat
Tehtaamme sertifikaatit
Laaduntarkastus
- 100 % optinen testaus
- Ikääntymistesti ennen toimitusta







