Verkotettu mikroskoopin opetusjärjestelmä

Verkotettu mikroskoopin opetusjärjestelmä

Digital Interactive Microscopy Systems yhdistää korkearesoluutioiset optiset polut sulautettuihin digitaalisiin prosessoreihin ja kosketus{1}}interaktiivisiin liitäntöihin.
Lähetä kysely
Kuvaus
Tekniset parametrit

Digital Interactive Microscopy Systems yhdistää korkearesoluutioiset optiset polut sulautettuihin digitaalisiin prosessoreihin ja kosketus{1}}interaktiivisiin liitäntöihin. Teollisiin tarkastuksiin, materiaalianalyyseihin ja biotieteiden laboratorioihin suunnitellut järjestelmät poistavat perinteisen okulaarien väsymisen suoratoistamalla ultra-HD-reaaliaikaista-kuvaa suoraan integroituihin näytöihin tai ulkoisiin monitoreihin. Alumiiniseosrungolla ja modulaarisilla optisilla komponenteilla rakennettu järjestelmä tukee tarkkaa -näytöllä tapahtuvaa mittausta, yhteiskatselua ja saumatonta tiedonsiirtoa USB 3.0:n ja Gigabit Ethernetin kautta sekä suoraa vientiä LIMS-yhteensopiviin muotoihin (CSV, Excel, PDF).

 

 

Tekniset tiedot

 

 

Parametri

Erittely

Optinen suurennus

20x – 500x (konfiguroitavissa objektiivilinssien avulla)

Digitaalinen anturi

1/1,8" Sony CMOS -kenno, 4K UHD (3840 x 2160)

Kuvataajuus

60 fps 4K-resoluutiolla (nolla latenssia)

Työetäisyys

35-120 mm

Valaistus

Quadrant{0}}ohjattu rengas-LED kirkkauden/kulman säädöllä

Mittaustyökalut

Piste{0}}pisteeseen-piste, kulma, säde, alue, samankeskiset ympyrät, automaattinen-reunan tunnistus

Ohjelmistojen ja käyttöjärjestelmien yhteensopivuus

Sulautettu Linux; Windows 10/11:n ja macOS:n kanssa yhteensopiva PC-ohjelmisto

Data- ja vientiportit

HDMI, USB 3.0, RJ45 Gigabit Ethernet, MicroSD (jopa 256 Gt); mittausraporttien suora vienti (PDF/Excel)

Virtalähde

DC 12V / 3A tulo

 

 

Tärkeimmät ominaisuudet

 

 

Nolla-viive 4K-näyttö:Suora HDMI-lähtö 60 fps:llä tarjoaa reaaliaikaisen liikkeen seurannan ilman liikkeen epäterävyyttä tai viivettä.

 

Sulautettu mittausohjelmisto:Sisäiset kalibrointi- ja mittaustyökalut toimivat itsenäisesti ilman ulkoista PC-liitäntää.

 

Modulaarinen tavoitesuunnittelu:Bajonetti{0}}asennusoptiikka mahdollistaa nopean vaihdon metallurgisten, biologisten ja polarisoivien objektiivien välillä.

 

Usean{0}}käyttäjän yhteistyö:Samanaikainen tulostus kosketusnäytöille, näytöille ja verkkopäätteille tiimin tarkastelua ja tarkastusta varten-pois.

 

Jäljitettävä kalibrointi:Tehdas{0}}kalibroidut vaihemikrometrit mukana jäljitettävien NIST-kalibrointitodistusten mukana.

 

 

Sovellukset

 

Elektroniikka ja piirilevyjen valmistus

Juotosliitoksen tarkastus, BGA-kohdistustarkastus ja mikro-halkeamien havaitseminen painetuissa piirilevyissä.

Metallurginen analyysi

Raekoon arviointi, faasianalyysi ja hitsin tunkeutumissyvyyden mittaus metallin valmistuksessa.

Life Science & Education

Patologian diakatsaus, kudosnäytteiden tarkkailu ja digitaaliset luokkahuoneesittelyt.

Tarkkuuskonetekniikka

Pinnan viimeistelyn tarkastus, kierteen nousun tarkistus ja mikrokomponenttien mitoitus.

 

 

Kokoonpanoasetukset

 

 

Jalustan kokoonpanot:Raskaat{0}}puomitelineet suurille näytteille, nivelletyille käsivarreille tai tavallisille hieno-tarkennuspylväille.


Valaistusmoduulit:Kirkaskenttä, pimeäkenttä, koaksiaalinen polarisoitu valo ja UV-fluoresoivat moduulit.


Kameran moduulit:Vaihdettavat anturipäät vaihtelevat tavallisesta 1080p{1}}nopeasta 12 megapikselin korkean-dynaamisen-alueen (HDR) muunnelmiin.

 

 

OEM/ODM ja räätälöinti

 

 

Laiteohjelmisto- ja käyttöliittymäbrändäys:Mukautetut käynnistysnäytöt, lokalisoidut ohjelmistoliitännät ja omat mittaustyökalut.

 

Optiset sovitukset:Räätälöidyt työskentelyetäisyydet, erikoissuodatinintegraatio (kaistanpäästö/polarisointi) ja mittatilaustyönä valmistetut asennuskannattimet automatisoituja tuotantolinjoja varten.

 

Valmistuskapasiteetti:Omat-CNC-työstökeskukset ja puhdastilojen optiset kokoonpanolinjat tukevat erätilauksia vakailla toimitusajoilla.

 

 

Laadunvalvonta

 

 

Optiikan tarkastus:Interferometritestaus varmistaa linssin aaltorintavirheen ja pinnoitteen tasaisuuden ennen kokoamista.

 

Anturin kalibrointi:Jokainen CMOS-anturi käy läpi pikselivirhekartoituksen ja värilämpötilan kalibroinnin.

 

Ympäristötestaus:Valmiille yksiköille suoritetaan 48{1}}tunnin palamistestaus ja tärinätarkistukset, jotta varmistetaan lämpöstabiilisuus ja mekaaninen kestävyys teollisuusympäristöissä.

 

Standardien noudattaminen:ISO 9001 -sertifioitu valmistus, CE-, FCC- ja RoHS-yhteensopiva.

 

 

Pakkaus ja toimitus

 

 

Pakkaus:Tarkkuusvaletut-antistaattiset EPS/EPE-vaahtomuoviosat, jotka on sijoitettu raskaisiin-kaksoisseinämäisiin-aallotuspahvipakkauksiin. Valinnaiset kestävät lentolaukut herkälle kansainväliselle kuljetukselle.

 

Pudotus- ja iskusuojaus:Pakkaukset on testattu tiukasti ISTA-pudotusstandardien mukaisesti, jotta ne suojaavat herkkiä optisia kohdistuksia pitkän matkan -globaalin rahdin aikana.

 

Laatikon tuotteet:-Päämikroskooppiyksikkö, virtalähde, kalibrointilasi, USB-hiiri, HDMI-kaapeli ja kalibrointitodistus.

 

Toimitus:Normaali lento- ja merirahtilogistiikka iskun{0}}ja-kallistuksen osoittimilla, jotka on kiinnitetty päälaatikoihin.

 

 

Usein kysytyt kysymykset

 

 

K: Tarvitseeko järjestelmä PC:n mittausten suorittamiseen?

V: Ei. Järjestelmä käyttää sulautettua mittausohjelmistoa suoraan liitetyn hiiren tai kosketusnäytön kautta HDMI-lähdön kautta. PC on valinnainen edistykselliseen tiedon raportointiin ja tietokantojen integrointiin USB 3.0:n kautta.

K: Mikä on suurin kuvanopeus 4K-resoluutiolla?

V: Järjestelmä tuottaa 60 kuvaa sekunnissa täydellä 4K (3840 x 2160) resoluutiolla, mikä eliminoi liikeviiveen live-tarkastuksen aikana.

K: Mitä ohjelmistomuotoja tuetaan tietojen vientiin?

V: Mittaustiedot, kuvat ja tarkastuslokit voidaan viedä suoraan CSV-, Excel- ja strukturoituihin PDF-raporttimuotoihin, mikä helpottaa integrointia laboratoriotietojen hallintajärjestelmiin (LIMS).

K: Voidaanko optista suurennusta päivittää oston jälkeen?

V: Kyllä. Modulaarisen bajonettikiinnikkeen avulla käyttäjät voivat vaihtaa objektiivilinssejä ja lisätä Barlow-lisälinssejä suurennusalueen säätämiseksi.

K: Miten järjestelmän kalibrointia ylläpidetään ISO{0}}yhteensopivia tarkastuksia varten?

V: Jokaisen yksikön mukana toimitetaan sertifioitu mikrometri. Käyttäjät käyttävät näytön ohjattua-kalibrointitoimintoa NIST-jäljitettävien kalibrointitietojen luomiseen, jotka tallennetaan suoraan laitteeseen.

K: Mitkä ovat merkkiohjelmiston OEM-räätälöinnin läpimenoajat?

V: Ohjelmiston alustava räätälöinti ja näytetestaus vaativat tyypillisesti 3–4 viikkoa, ja tuotantomäärät vastaavat vakiovalmistusaikatauluja.

 

 

Pyydä tarjous

 

 

Täytä alla olevat kyselyparametrit saadaksesi{0}}suoran tehdashinnan, tekniset piirustukset tai määrittää mukautetut OEM-vaatimukset. Suunnittelusovellustiimimme vastaa 24 tunnin sisällä virallisella tarjouksella ja konfiguroinnin toteutettavuusraportilla.

[Pyydä tehdastarjous ja tekninen tietolomake]

[Kysy OEM/ODM-räätälöinnista]

 

Suositut Tagit: verkotettu mikroskoopin opetusjärjestelmä, Kiina verkottuneen mikroskoopin opetusjärjestelmän valmistajat, toimittajat

 
Tehtaamme sertifikaatit
 
Phenix ISO9001
ISO9001:2015
Phenix ISO14001
ISO14001:2015
Phenix ISO45001
ISO45001:2015
 

Laaduntarkastus

 
  • 100 % optinen testaus
  • Ikääntymistesti ennen toimitusta
 

CTA