Kuvaus

Tekniset parametrit

Digitaalinen mikroskoopin esittelyjärjestelmä (malli: DMD-4K60) on integroitu optinen-digitaalinen alusta, joka on suunniteltu reaaliaikaiseen mikroskooppiseen yhteistyöhön, laitoskoulutukseen ja tarkkuustarkastusten tarkasteluun. Yhdistämällä korkean -herkän CMOS-kennon ultra-pienen viiveen digitaaliseen lähetykseen ja moottoroituun tarkennuksen ohjaukseen, järjestelmä projisoi eläviä mikro-rakenteita 4K-resoluutiolla useille näytöille samanaikaisesti. Se on suunniteltu yliopistojen laboratorioihin, ammatillisiin keskuksiin ja teollisuuden koulutustiloihin, ja se eliminoi perinteiset yhden okulaarin rajoitukset.

Tekniset tiedot

Parametri	Erittely
Kuvan anturi	1/1,8" Sony STARVIS CMOS-anturi
Suurin resoluutio ja kuvataajuus	4K UHD (3840 × 2160) 60 FPS:llä
Optinen suurennusalue	20x – 1000x (konfiguroitavissa objektiivien avulla)
Näkökenttä (FOV)	0,8-35 mm
Lähtöliitännät	HDMI 2.0, USB 3.0 Type-C, Gigabit Ethernet (RJ45)
Valaistusjärjestelmä	Kaksi{0}}kanavaa koaksiaali- ja rengas-LED (CRI > 95, säädettävä värilämpötila 3000K–6500K)
Tarkennusmekanismi	Koaksiaalinen karkea/hienotarkennus moottoroidulla mikro{0}}askelohjauksella (0,1 μm:n askeltarkkuus)
Käyttöjärjestelmän tuki	Windows 10/11 (64-bittinen), macOS, Linux (UVC/UAC-protokollan mukainen)
Virtalähde	AC 100V–240V, 50/60Hz tulo; DC 12V/3A lähtö

Tärkeimmät ominaisuudet

Nolla{0}}viive 4K-suoratoisto:Pakkaamaton 60 fps HDMI ja verkkolähetys eliminoivat visuaalisen viiveen live-käsittelyn ja ohjaajan esittelyn aikana.

Synkronoitu usean{0}}näytön ulostulo:Samanaikainen tulostus projektoreille, huonenäytöille ja opiskelijoiden työasemille paikallisverkon tai HDMI-jakajien kautta.

Interaktiivinen merkintäohjelmisto:Integroitu mittauspaketti tukee live-kalibrointia, ulottuvuuspeittokuvaa, kulman mittausta ja kuvan/videon kaappausta ilman kolmannen osapuolen{0}}laajennuksia.

Tarkka optinen kokoonpano:Monikerroksinen laajakaista anti-heijastamaton (AR) lasioptiikka minimoi kromaattisen aberraation ja maksimoi valon läpäisyn.

Modulaarinen telinearkkitehtuuri:Raskas-painevalettu-alumiinisalusta tärinää-vaimentavilla jaloilla varmistaa mekaanisen vakauden suuren-suurennussäädön aikana.

Sovellukset

Korkeakoululaboratoriot:Biologian, patologian ja materiaalitieteen luennot, jotka edellyttävät reaaliaikaista{0}}näytteiden esittelyä suurille opiskelijaryhmille.

Teollinen T&K- ja epäonnistumisanalyysi:Yhteistyötarkastuksia, joissa insinööritiimit analysoivat mikro{0}}murtumia, piirilevyjen juotosvirheitä ja materiaalin mikro{1} rakenteita samanaikaisesti.

Lääkärin koulutuskeskukset:Histologian ja sytologian tekniikan esittelyt lähetetään suoraan kirurgisten koulutusten amfiteatteriin.

Tekninen ammatillinen koulutus:Standardoitu kokoonpanotarkastuskoulutus elektroniikka- ja tarkkuusvalmistuksen toimijoille.

Kokoonpanoasetukset

Standard Academic Kit

DMD-4K60 optinen runko, kaksois-LED-valaistus, standardi XY mekaaninen vaihe, perusmittausohjelmiston lisenssi.

Industrial Advanced Kit

Lisää moottoroidun Z--akselin tarkennuksen, polarisaatiosuodatinsarjan, koaksiaaliset metallurgiset objektiivit ja monen-käyttäjän verkon suoratoistomoduulin.

Mukautettu tavoitesarja

Vaihdettavat objektiivilinssit (4x, 10x, 20x, 50x, 100x Plan Achromat) saatavilla pyynnöstä.

OEM/ODM ja räätälöinti

Ohjelmistobrändäys:OEM-asiakaslogon integrointi sieppaus- ja mittausohjelmiston käyttöliittymään.

Laitteiston sovitus:Mukautetut kiinnityskannattimet ja optiset porttiadapterit liitettäväksi olemassa oleviin puomitelineisiin tai erityisiin suojakupuihin.

Laiteohjelmiston räätälöinti:Räätälöidyt verkkoprotokollat (RTSP/ONVIF) integroitaviksi olemassa oleviin institutionaalisiin AV-infrastruktuureihin.

Laadunvalvonta

Optinen kohdistus:Jokaiselle optiselle lohkolle suoritetaan laserinterferometriatestaus aaltorintaman virheen tarkistamiseksi ja pallopoikkeaman eliminoimiseksi.

Anturin kalibrointi:Kuolleiden pikselien kartoitus ja värilämpötilan kalibrointi suoritetaan lämpötilasäädetyssä puhdastilaympäristössä.

Stressitesti:Mekaaniset tarkennuskokoonpanot käyvät läpi 100 000 jatkuvaa käyttöjaksoa ennen kokoonpanon tyhjenemistä.

Sähköyhteensopivuus:Sertifioitu CE-, FCC-, UL/ETL- ja RoHS-standardien mukaisesti; virtalähteet käyvät läpi 48-tunnin täyden-kuorman palamistestin.

Pakkaus ja toimitus

Pakkausrakenne:Räätälöity CNC{0}}jyrsitty korkeatiheyksinen-EPE-vaahtomuovi telineessä optiset ja elektroniset komponentit erikseen vaimentamaan kuljetusiskuja.

Ulkopakkaus:Kaksi{0}}seinämäinen aaltopahvipakkaus, joka on vahvistettu reunasuojaimilla ja kosteussulkulla.

Logistiikan vaatimustenmukaisuus:ISTA 3A pudotustestattu{1}}pakkaus, joka on vahvistettu kansainväliseen lento- ja merirahtiin.

Usein kysytyt kysymykset

K: Vaatiiko järjestelmä ulkoisen PC-liitännän perusprojisointia varten?

V: Ei. Järjestelmässä on suora HDMI-ulostulo plug{1}}and--liitäntää varten näyttöihin tai projektoreihin. PC tarvitaan vain käytettäessä kehittynyttä mittaus- ja tallennusohjelmistoa USB 3.0:n tai Ethernetin kautta.

K: Mikä on verkon enimmäislähetysviive, kun suoratoisto suoritetaan lähiverkon kautta?

V: Latenssia pidetään alle 85 millisekunnissa tavallisessa Gigabit-paikallisverkossa käyttämällä laitteistokiihdytettyä H.265-koodausta.

K: Voidaanko olemassa olevia mikroskoopin objektiiveja käyttää tämän järjestelmän kanssa?

V: Vakiosuorakappale käyttää RMS-kierreväliä (45 mm:n parfokaalietäisyys). Sovittimet ei--vakiosäikeille voidaan toimittaa pyynnöstä.

K: Miten valaistusta ohjataan{0}}suuren suurennuksen aikana?

V: Valaistuksen voimakkuutta ja värilämpötilaa säädetään itsenäisesti kosketettavien etupaneelien{0}}pyörivien kooderien tai ohjelmiston liukusäätimien avulla, mikä estää heijastavien metallinäytteiden häikäisyn.

K: Mitä kalibrointityökaluja sisältyy mittamittauksiin?

V: Jokaisen järjestelmän mukana toimitetaan NIST:n (National Institute of Standards and Technology) jäljitettävä mikrometrin kalibrointilasi ja ohjelmistokalibrointivelho.

K: Mikä on vakiotakuun ja teknisen tuen käytäntö?

V: Järjestelmä sisältää 2 vuoden rajoitetun takuun, joka kattaa optiset ja elektroniset viat ja jota tukee laiteohjelmiston etäpäivitystuki ja modulaaristen komponenttien vaihtopalvelu.

Pyydä tarjous

Saadaksesi virallisen tarjouksen, volyymihinnoittelun tai teknisen integraatiotuen oppilaitoksellesi, lähetä kyselysi seuraavilla parametreilla, jotta suunnittelutiimimme voi antaa tarkan ehdotuksen:

Sovellusympäristö:(esim. biologinen laboratorio, metallurginen tarkastus, elektroniikkakokoonpano)

Pakollinen kokoonpano:Standard Academic Kit vs. Industrial Advanced Kit

Määrä ja toimitustiedot:Kohteen toimituksen postinumero/portti ja institutionaaliset vaatimukset

Vaatimusten noudattaminen:Tietyt alueelliset sähkösertifikaatit (esim. UL/ETL Pohjois-Amerikassa, CE Euroopassa)

Suositut Tagit: digitaalisen mikroskoopin esittelyjärjestelmä, Kiinan digitaalisen mikroskoopin esittelyjärjestelmän valmistajat, toimittajat